- Oggetto:
- Oggetto:
Cristallografia
- Oggetto:
Anno accademico 2007/2008
- Codice dell'attività didattica
- S8854
- Docente
- Prof. Mauro Prencipe
- Corso di studi
- Laurea Magistrale in Matematica
- Anno
- 4° anno 5° anno
- Periodo didattico
- Secondo semestre
- Tipologia
- Affine o integrativo
- Crediti/Valenza
- 7
- Oggetto:
Sommario insegnamento
- Oggetto:
Obiettivi formativi
Il corso è di tipo applicativo ed è volto a illustrare lutilizzo di alcuni strumenti di base, appresi dagli studenti durante lintero corso di studi in Matematica, al caso della cristallografia geometrica e strutturale.- Oggetto:
Risultati dell'apprendimento attesi
Prendendo spunto da questioni di carattere cristallografico, gli studenti dovranno essere in grado di impostare e risolvere problemi concreti, utilizzando gli opportuni strumenti formali in loro possesso.- Oggetto:
Programma
Pre-requisiti in ingresso e competenze minime in uscita
Pre-requisiti (in ingresso)
Insegnamenti fornitori
Fondamenti di Geometria
Geometria I, II
Fondamenti di Algebra
Algebra I
Competenze minime (in uscita)
Insegnamenti fruitori
Formulazione corretta di problemi di carattere applicativo in ambito cristallografico
Tesi di Laurea
Programma, articolazione e carico didattico
Argomento
Ore
Lezione
Totale Ore di Carico Didattico
Introduzione e motivazioni al corso. Dai cristalli reali ai reticoli di punti; periodicità e definizione operativa di reticolo.
6
6
Metrica dei reticoli. Spazio e reticolo reciproco; piani reticolari e loro rappresentazione in termini di reticolo reciproco.
10
10
Simmetrie di insiemi di punti; simmetrie di reticolo; gruppi di simmetria reticolare e loro uso nella classificazione dei reticoli. Simmetrie reciproche.
20
20
Simmetrie spaziali. Gruppi spaziali per strutture bi e tridimensionali
10
10
Teoria della diffrazione e sua applicazione nella risoluzione di strutture cristalline.
10
10
Totale
56
56
na prima parte è dedicata ai fondamenti della cristallografia geometrica, con particolare riguardo alla definizione e all’uso degli opportuni strumenti matematici per la costruzione di reticoli e per la definizione, e successiva analisi, della simmetria reticolare (gruppi puntuali e gruppi spaziali). La seconda parte è dedicata ai fondamenti della diffrattometria, alla base di gran parte delle tecniche cristallografiche di indagine strutturale. In particolare, si esamineranno: (i) aspetti geometrici della diffrazione da sistemi periodici (equazioni di Laue e di Bragg, sfera di Ewald e utilizzo del concetto di reticolo reciproco per l’interpretazione della geometria della diffrazione); (ii) diffusione di un’onda elettromagnetica da parte di un atomo come trasformata di Fourier della funzione densità elettronica atomica; (iii) funzione reticolo; densità elettronica del cristallo infinito; trasformata di Fourier della densità elettronica cristallina e sua lettura in termini di intensità di diffrazione (fattori di struttura); (iv) informazioni strutturali ricavabili dall’analisi combinata della geometria e delle intensità di diffrazione.
Testi consigliati e bibliografia
- Oggetto:
- In aggiunta a dispense fornite dal docente si raccomanda:
GIACOVAZZO C. (2002): Fundamentals of Crystallography. Oxford University Press. - Oggetto:
Note
L'esame prevede un colloquio orale.- Oggetto:
